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天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX3600繼承了天瑞儀器EDX系列的準(zhǔn)確、快速、無(wú)損、直觀及環(huán)保五大特點(diǎn)，采用25mm2大面積鈹窗探測(cè)器，可準(zhǔn)確無(wú)誤地分析出黃金、鉑金、銀等飾品中金、銀、鉑、鈀、銠、銅、鐵、鎳、鋨、鋅、銥的含量,測(cè)試結(jié)果符合國(guó)標(biāo)GB-1887《首飾貴金屬純度的規(guī)定及命名方法》和GB/T-18043《貴金屬首飾含量的無(wú)損檢測(cè)方法X射線(xiàn)熒光光譜法》的要求。

天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX8000L利用中國(guó)歷史博物館和上海硅酸鹽研究所兩大古陶瓷研究檢測(cè)的部門(mén)提供的標(biāo)準(zhǔn)陶瓷片樣品為儀器標(biāo)定基準(zhǔn)標(biāo)樣，一次性同時(shí)分析古陶瓷標(biāo)本胎和釉中Na2O、MgO、Al2O3、CaO、Fe2O3、K2O、MnO、SiO2、TiO2、As、Cr、Cu、Co、Mn、Ni、Pb、Ti、V、Zn、Zr、Ba等化學(xué)成份含量，再對(duì)照中國(guó)古陶瓷數(shù)據(jù)庫(kù)便可以達(dá)到斷代斷源的功效。

天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX3600H融匯合金分析技術(shù)，配備智能真空系統(tǒng)，利用低能光管配合真空測(cè)試，可以有效的降低干擾，提高輕元素分辨率,大大提高合金中微量的Al、Si、P等輕元素的檢測(cè)效果。EDX3600H合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測(cè)試專(zhuān)門(mén)開(kāi)發(fā)的儀器類(lèi)型。具有測(cè)試精度高、測(cè)試速度快、測(cè)試簡(jiǎn)單等特點(diǎn)。

天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀Thick600是集天瑞儀器多年鍍層測(cè)厚檢測(cè)技術(shù)和經(jīng)驗(yàn)，以*的產(chǎn)品配置、功能齊全的測(cè)試軟件、友好的操作界面來(lái)滿(mǎn)足金屬鍍層及含量測(cè)定的需要，人性化的設(shè)計(jì)，使測(cè)試工作更加輕松完成。Thick600鍍層測(cè)厚儀使用實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒和電制冷探測(cè)器，以實(shí)在的價(jià)格定位滿(mǎn)足鍍層厚度測(cè)量的要求，且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì)，使儀器操作更人性化、更方便。

天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX4500是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無(wú)損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等關(guān)注的元素進(jìn)行準(zhǔn)確分析，在冶煉過(guò)程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。

天瑞X射線(xiàn)熒光光譜儀EDX2000H黃銅成分分析以及其他金屬樣品的成分分析。應(yīng)用新一代的高壓電源和X光管，提供了產(chǎn)品的可靠性，利用新X光管提高儀器的測(cè)試效率，并優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護(hù)等級(jí)。不添加任何硬件設(shè)施既可升級(jí)分析功能，方便靈活的隨未來(lái)發(fā)展的分析需要增加分析元素及合金種類(lèi)；采用多參數(shù)的線(xiàn)性回歸方法，使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低，檢測(cè)時(shí)間短，可以大大提高工作效率。